SZ-45 Stereomikroskop
An de leschte Joren, mat der schneller Entwécklung vu modernen Technologien wéi Metallurgie, Maschinnen, Petrochemie, Elektrizitéit, Atomenergie a Loftfaart, sinn d'Ufuerderunge fir d'Stabilitéit vum Produktschweißen ëmmer méi héich ginn, an d'Schweißpenetratioun ass wichteg fir d'mechanesch Eegeschafte vum Schweißen. Dofir ass d'effektiv Detektioun vun der Schweißpenetratioun zu engem wichtege Mëttel fir den Schweesseffekt ze testen, wéinst de Spuere an der externer Leeschtung. De Penetratiounsstereomikroskop benotzt auslännesch fortgeschratt Technologie, déi besonnesch fir déi streng Ufuerderunge vum Schweessen am Beräich vun der Autodeelerproduktioun gëeegent ass. Et kann d'Penetratioun vu verschiddene geschweißte Verbindungen duerchféieren, wéi z. B. (Stumpfverbindung, Eckverbindung, Iwwerlappungsverbindung, T-Verbindung, asw.), fotograféieren, änneren, moossen, späicheren an drécken.
Technesch Parameteren:
Mikroskop:
1. Okular: 10X, Siichtfeld φ22mm
2. Kontinuéierlecht Zoomberäich vun der Objektivlëns: 0,8X-5X
3. Okularfeld vum Siichtfeld: φ57.2-φ13.3mm
4. Aarbechtsdistanz: 180mm
5. Duebelt Astellungsberäich fir d'Distanz tëscht de Pupillen: 55-75mm
6. Mobil Aarbechtsdistanz: 95mm
7. Total Vergréisserung: 7—360X (huelt als Beispill en 17-Zoll Display, 2x grouss Objektivlëns)
8. Dir kënnt dat physescht Bild direkt um Fernseh oder Computer observéieren
Miessdeel:
Dëst Softwaresystem ass leistungsstark: et kann déi geometresch Dimensioune vun alle Biller moossen (Punkten, Linnen, Kreesser, Béi an d'Zesummespill vun all Element), déi gemoossen Donnéeë kënnen automatesch op de Biller markéiert ginn, an d'Skala kann ugewise ginn.
1. Softwaremiessgenauegkeet: 0,001 mm
2. Grafesch Miessung: Punkt, Linn, Rechteck, Krees, Ellips, Bogen, Polygon.
3. Grafesch Bezéiungsmiessung: den Ofstand tëscht zwéi Punkten, den Ofstand vun engem Punkt zu enger gerader Linn, de Wénkel tëscht zwéi Linnen an d'Bezéiung tëscht zwéi Kreesser.
4. Elementstruktur: Mëttelpunktstruktur, Mëttelpunktstruktur, Schnëttstruktur, Senkrechtstruktur, äusser Tangentstruktur, bannenzeg Tangentstruktur, Akkordstruktur.
5. Grafik-Vorastellungen: Punkt, Linn, Rechteck, Krees, Ellips, Bogen.
6. Bildveraarbechtung: Bildopnam, Bilddatei opmaachen, Bilddatei späicheren, Bilddrécken
