SC-2000C Schweessduerchdringungsmiessmikroskop
De Schweessduerchdringungsdetektiounsmikroskop 2000C ass mat engem High-Definition-Miessmikroskop an enger Duerchdringungsmiesssoftware ausgestatt, déi d'Déift vum Duerchdringungsmikroskop moosse a späichere kann, déi vu verschiddene Schweessverbindungen (Stumpsverbindungen, Eckverbindungen, Iwwerlappungsverbindungen, T-fërmeg Verbindungen, etc.) produzéiert ginn. Gläichzäiteg kann och eng Makro-Schweessinspektioun duerchgefouert ginn, an et ginn zwéi Mikroskope fir d'Inspektioun vun der Schweessqualitéit zur Verfügung gestallt. D'Schweessduerchdringung bezitt sech op d'Déift vum Schmelzen vum Basismetall. Beim Schweessen muss et eng gewëssen Duerchdringung ginn, fir datt déi zwee Basismetaller, déi geschweesst solle ginn, fest zesummegeschweesst sinn. Onzureichend Duerchdringung kann einfach zu engem onvollstännege Schweess, Schlackeninklusiounen, Schweessknäppchen a kale Rëss an aner Problemer féieren. Eng ze déif Duerchdringung kann einfach zu Verbrennungen, Ënnerschnëtt, Poren an aner Phänomener féieren, déi direkt d'Schweessqualitéit beaflossen. Dofir ass et ganz wichteg, d'Schweessduerchdringung ze moossen. An de leschte Joren, mat der schneller Entwécklung vu modernen Technologien wéi Elektronik, Chemikalien, Atomenergie, Automobilindustrie, Schëffsbau a Loftfaart, hunn verschidden Industrien ëmmer méi héich Ufuerderungen un d'Schweessqualitéit, an d'Detektioun vun der Schweessqualitéit ass entscheedend fir d'industriell Moderniséierung vun der Maschinnebauindustrie. Entscheedend. D'industriell Moderniséierung vum Penetratiounsmikroskop steet virun der Dier. Als Äntwert op dës Situatioun hu mir e Mikroskop HB5276-1984 fir d'Widerstandspunktschweißen aus Aluminiumlegierungen entwéckelt an entworf, deen d'Schweißpenetratioun no Industriestandarden (HB5282-1984 Strukturstahl a Stol mat Widerstandspunktschweißen a Qualitéitsinspektioun vu Nahtschweißen). a Nahtschweißqualitéitsinspektioun) Schweißqualitéitsinspektiounssystem 2000C moosst. Dëst System kann net nëmmen d'Schweißpenetratioun moossen (mat der Zerstéierungsmethod), mä och d'Schweißqualitéit kontrolléieren, Rëss, Lächer, ongläich Schweißnähten, Schlakenasschlëss, Poren a verwandte Dimensiounen, etc. detektéieren. Makroskopesch Untersuchung.
- Schéin Form, flexibel Operatioun, héich Opléisung a kloer Bildgebung
- D'Penetratiounsdéift kann präzis erkannt ginn, eng Skalabalk kann iwwer d'Penetratiounsdéiftbild iwwerlagert ginn, an d'Resultat kann gespäichert ginn.
- Makroskopesch metallographesch Inspektioun an Analyse vum Schweessen kann duerchgefouert ginn, wéi zum Beispill: ob et Poren, Schlakaschlëss, Rëss, Mangel u Penetratioun, Mangel u Schmelz, Ënnerschnitten an aner Defekter an der Schweess oder der hëtzebeaflosster Zon gëtt.
Greenough Den 10-Grad-Konvergenzwénkel am optesche System garantéiert eng exzellent Bildflaachheet bei grousser Déifteschärft. Eng virsiichteg Auswiel vu Lënsbeschichtungen a Glasmaterialien fir dat ganzt optescht System kann zu enger origineller, faarwgerechter Vue an Opnam vu Proben féieren. De V-fërmegen optesche Wee erméiglecht e schlanke Zoomkierper, deen besonnesch fir d'Integratioun an aner Apparater oder fir Stand-alone-Benotzung gëeegent ass.
De Zoomverhältnis vun 6,7:1 vum M-61 erweidert de Vergréisserungsberäich vu 6,7x op 45x (wann een en 10x Okular benotzt) a erméiglecht e reibungslosen Makro-Mikrozoom fir alldeeglech Aarbechtsprozesser ze beschleunegen.
De richtege Wénkel no bannen bitt déi perfekt Kombinatioun aus héijer Flaachheet an Déifteschärft fir eng 3D-Betrachtung. Och déck Prouwe kënne vun uewen no ënnen fokusséiert ginn, fir eng méi séier Inspektioun.
Extra grouss Aarbechtsdistanz
Den Aarbechtsdistanz vun 110 mm erliichtert d'Opnam, d'Placement an d'Bedienung vun de Prouwe.
Den SC-2000C benotzt Vergréisserungsindikatoren mat 0,67X, 0,8X, 1,0X, 1,2X, 1,5X, 2,0X, 2,5X, 3,0X, 3,5X, 4,0X, 4,5X an 11 Gang, déi déi fix Vergréisserung präzis fixéiere kënnen. Dëst bitt eng Viraussetzung fir konsequent a präzis Miessresultater ze kréien.
| Modell | SC-2000C Schweessduerchdringungsmiessmikroskop |
| Standardvergréisserung | 20X-135X |
| Optional Vergréisserung | 10X-270X |
| Objektivlëns | 0,67X-4,5X kontinuéierleche Zoom, Zoomverhältnis vun der Objektivlëns 6,4:1 |
| Sensor | 1/1,8 Zoll COMS |
| Opléisung | 30FPS @ 3072×2048 (6,3 Milliounen) |
| Ausgangsinterface | USB 3.0 |
| Software | Professionell Software fir d'Analyse vun der Schweesspenetratioun. |
| Funktioun | Echtzäitobservatioun, Fotografie, Videoopnam, Miessung, Späicherung, Datenausgab a Rapportausgab |
| mobil Plattform | Bewegungsberäich: 75mm * 45mm (optional) |
| Gréisst vum Monitor | Aarbechtsdistanz 100 mm |
| Basisklammer | Hiefaarmhalterung |
| Beliichtung | Verstellbar LED-Beliichtung |
| Computerkonfiguratioun | Dell (DELL) OptiPlex 3080MT Betribssystem W10 Prozessor Chip I5-10505, 3.20GHz Späicher 8G, Festplack 1TB (optional) |
| Dell Monitor 23,8 Zoll HDMI High Definition 1920*1080 (optional) | |
| Stroumversuergung | Externen Breetspannungsadapter, Input 100V-240V-AC50/60HZ, Output DC12V2A |
