LHMICV5100 Vollautomatescht oprecht Metallurgescht Mikroskop
All Operatioune sinn no ergonomesche Prinzipie konzipéiert, fir d'Middegkeet vum Bedreiwer ze minimiséieren. Säin modulare Komponentendesign erlaabt eng flexibel Kombinatioun vu Systemfunktiounen. Et ëmfaasst verschidde Observatiounsfunktiounen, dorënner Hellfeld-, Däischterfeld-, schréi Beliichtung, polariséiert Liicht an DIC-Differenzialinterferometrie, mat Funktiounen, déi op Basis vun spezifeschen Uwendungen auswielbar sinn.
Ënnerstëtzt e weltwäit féierend ultra-breet Siichtfeld vun 25 mm, wat Iech eng ganz nei breet Siichterfahrung bréngt. E méi breede Spektrum vun Dioptrienjustierungen kann den Ufuerderunge vu méi Benotzer fir spezifesch Uwendungen gerecht ginn.
Déi semi-apochromatesch Objektiver fir Hellfeld an Däischterfeld gi mat suergfälteg ausgewielten héichtransmittanten Lënsen an enger fortgeschrattener Beschichtungstechnologie hiergestallt, fir déi natierlech Faarwen vun der Prouf wierklech ze reproduzéieren; den semi-apochromateschen Design huet eng exzellent Faarfkorrekturleistung, wat de Kontrast an d'Kloerheet vum observéierte Bild verbessert.
De Polarisatiounssystem enthält en Polarisatiounsasaz an en Analysatorasaz, deen d'Detektioun vu polariséiertem Liicht duerchféiere kann. Bei der Hallefleeder- a PCB-Inspektioun kann et Stréiliicht eliminéieren an Detailer méi kloer maachen.
Den 360° rotéierende Analysator erméiglecht eng bequem Observatioun vum Ausgesinn vun der Probe ënner Liicht mat verschiddene Polarisatiounswénkelen, ouni d'Probe ze beweegen.
● Déi héichpräzis motoriséiert XY-Bühn, kombinéiert mat engem zouenen Kontrollsystem, erméiglecht e Bildscannen a voller Gréisst an eng héich performant Bildsynthese, wat eng nahtlos Integratioun vu verschiddene Siichtfelder garantéiert.
● Et ënnerstëtzt personaliséiert Scanweeër, adaptéiert sech un onregelméisseg Proben a verbessert d'Erfolgsquote beim Spleisséiere vu komplexe Flächen.
●D'Z-Achs gëtt elektresch ugedriwwen, wat eng automatesch Bildfokusséierung erméiglecht.
Den Hiewel op der viischter Säit vum Beliichter mécht de Wiessel tëscht hellen an donkelen Felder méi einfach an huet eng Verbindungsfunktioun fir den Neutraldichtfilter. Dëst verhënnert, datt d'Aen vum Benotzer duerch staarkt Liicht stimuléiert ginn, wann hien vun donkelen op hellen Felder wiesselt, wat de Komfort vum Benotzer verbessert.
E Multi-Apertur-Objektivkonverter erméiglecht eng méi vernünfteg a kontinuéierlech Observatioun bei niddreger, mëttlerer an héijer Vergréisserung vum selwechte Probe op verschiddene Observatiounspunkten.
| Optescht System | Onendlech korrigéiert optescht System |
| Observatiounsröhrchen | 30° Kippung, onendlech gekippt Dräi-Weeër-Observatiounsröhre, Astellung vum Pupillofstand: 50mm~76mm, zweestufegt Stralenopdeelungsverhältnis, Fernglas:Trino = 100:0 oder 0:100 |
| Okular | Héich Aenpunkt, breet Siichtfeld Planokular PL10X / 25mm, justierbar Dioptrie. |
| Hell a donkel FelderSemi-komplex Objektivlëns | LMPLFL 5X /0.15 BD DIC WD13.5mmLMPLFL10X/0.30 BD DIC WD9.0mmLMPLFL20X/0.5 BD DIC WD2.5mmLMPLFL50X/0,80 BD WD1,0mmLMPLFL100X / 0,90 BD WD 1,0mm |
| Konverter | 6-Lächer Konverter fir hell an donkel Felder, mat DIC-Slot |
| Kader | D'Kamera huet e Reflektorkahmen an e koaxialen Grob- a Feinfokussierungsmechanismus mat niddreger Positioun. D'Grobjustierungswee ass 25 mm an d'Feinjustierungsgenauegkeet ass 0,001 mm. Si enthält eng Anti-Rutsch-Justizspannungsvorrichtung an en zoufällegen ieweschten Endschalter. |
| Beliichtungsanlag | Hellfeld- a Donkelfeldreflektiven Beliichtungsgerät mat variabler Aperturmembran, Feldmembran a zentréierbarer Verstellbarkeet; mat Schaltgerät fir Hellfeld- a Donkelfeldbeliichtung; mat Faarffilterschlitz a Polarisator-/Analysatorschlitz. |
| Lampenzëmmer | 12V 100W Halogenlampe fir d'Zëmmer, souwuel fir Transmissioun wéi och fir Reflexioun gëeegent, kann virbestellt ginn. |
| Z-Achs | Autofokus |
| Elektresch Plattform | Plattformbewegung: Horizontal Richtung * Vertikal Richtung = 80 * 60 (Eenheet: mm)Schraufleitung: 2000μmXY-Widderhuelbarkeetsgenauegkeet: bannent ± 2 μmZ-Achs Widderhuelbarkeet: bannent ± 1 μmOpléisung bei 16 Ënnerdeelungen: 0,625 μm pro Schrëtt Schrëttmotor Schrëttwénkel: 1,8° Bewäerte Betribsstroum: 1,0A pro Well (mat 24V ugedriwwen) Maximal Belaaschtung: ≥5kg Maximal Spillraum hin an zréck: 2 Mikrometer Déi maximal Proufhéicht ass 25 mm (aner Héichte kënnen personaliséiert ginn). |
| Kontrollbox fir den Undriff | Et benotzt e Standard RS232 serielle Port fir mat engem PC ze kommunizéieren (Baudrate vun 115200).D'Seriellportkontroll erlaabt d'Astellung vun der Geschwindegkeet, der Distanz an der Bewegungsrichtung vum Motor. |
| Aner Uschlëss | Polarisator-Asaz, 360° rotéierenden Analysator-Asaz an Interferenzfilter-Set fir Reflexioun. |
| Analysesystem | FMIA 2025 echt metallographesch Analysesoftware a Porositéitssoftware |
| Kamera-Apparat | 5 Megapixel, 36 fps |
| 0,5X Adapterobjektivschnittstell, Mikrometer | |
| Industriell Kontrollcomputer | Intel i5 Prozessor, 64GB RAM, 1TB SSD, 27-Zoll 4K Monitor |
Eis metallographesch Bildanalysesoftware ass e brandneit System, dat vun eiser Firma entwéckelt gouf a baséiert op de metallographeschen Testbedürfnisser vu Gossbetriber, Autodeelerbetriber, Wärmebehandlungsbetriber, Lagerstahlindustrie, Energieversuergungsindustrie, Eisebunnsdeelerindustrie a verschiddene verwandte Testfirmen. Fir d'Produktqualifikatiounsquote ze verbesseren an den Testniveau vu verschiddene Laboratoiren ze verbesseren, hu mir d'Bedierfnesser an d'Meenunge vun Experten a Léierpersonal aus verschiddene Branchen gesammelt.
D'Software fir metallographesch Bildanalyse gouf komplett nei gestaltet an aktualiséiert. De System deckt eng grouss Zuel vun nationalen an internationalen metallographeschen Teststandarden of, integréiert quantitativ a qualitativ Analysen a füügt Funktiounen fir d'Déifteschärftsynthese a Bildfeldfeldverbindung bäi. D'Interface ass einfach a kann kontinuéierlech Biller aus verschiddene Siichtfelder fir zentraliséiert Bildorganisatioun an -analyse ophuelen. D'Operatioun ass méi praktesch, andeems verschidde komplizéiert Schrëtt vun der viregter Software eliminéiert ginn, wouduerch d'Tester méi séier a méi effizient ginn.
Mir hunn e ganz neit "professionellt, präzist an effizient" metallographescht Analyse-Tool-System entwéckelt, fir d'metallographesch Analyse ze vereinfachen.
D'national Standardbibliothéik vum Softwaresystem enthält Honnerte vu Kategorien, déi am Fong gängeg metallographesch Standarden ofdecken an d'Ufuerderunge vun der metallographescher Analyse an dem Test vun der grousser Majoritéit vun Organisatiounen erfëllen. Relevant Kategorien ginn no de Bedierfnesser vun de verschiddene Branchen spezifizéiert an opgemaach, fir d'Testfuerderunge vun der Industrie ze erfëllen. All Moduler si liewenslänglech gratis verfügbar, an d'Standarden ginn liewenslänglech gratis aktualiséiert.
Wéinst der wuessender Zuel vun neie Materialien an importéierte Qualitéiten, kënne Materialien an Evaluatiounsstandarden, déi nach net an der Software abegraff sinn, personaliséiert a separat agefouert ginn.
Virdeeler a Funktiounenvun der metallographescher Analysesoftware:
- Batch-Videobildopnam an -akquisitiounBatch-Opname, Batch-Benennung, Batch-Späichere, Batch-Drock mat fixer Vergréisserung an aner Multi-Image-Batch-Veraarbechtungsfunktioune maachen de Prozess vun der Inspektioun vu Batch-Proben méi praktesch an effizient.
- FortgeschrattKamera-Astellungen:Beliichtungszäit, Verstärkung, Schärft, Sättigung, Gamma, Kontrast, Hellegkeet, Wäissofgläich, Schwaarzofgläich an aner Funktiounsastellungen.
- Ee KlickKalibrierung fir all Ziler:D'Kalibrierungsfunktioun gouf komplett verbessert, sou datt Dir d'Kalibrierung vun allen objektiven Parameteren mat engem eenzege Klick ofschléisse kënnt. Am Verglach mat der ursprénglecher Kalibrierungsmethod ass déi nei Kalibrierungsmethod méi praktesch a méi séier ze bedreiwen.
- Bildveraarbechtungsfunktiounen:Faarftrennung, Grostufenkonversioun, Schwellwäerter, Binariséierung, Bildverbesserung, Phaseninversioun, Schärfen, Kratzer- a Fleckentfernung, Bildhistogramm, etc.
- Bildskaléierungsausgab:Zu de Funktiounen gehéieren den Drock vu verschiddene Biller mat Skalierung, personaliséiert Bildnimm, Astellungen fir Skalierungsparameteren, Export an PDF/Word/Excel an eng Drockvirschau.
Bildmiessung an Archivéierung:Eng Vielfalt vu Miessinstrumenter si verfügbar (dorënner Distanz, Wénkel, Wénkel tëscht zwou Linnen, Rechteck, Punkt-zu-Linn-Distanz, Ellips, Polygon, parallel Linnendistanz, Dräipunktbou, Dräipunktkrees, etc.), déi et erlaben, Pfeiler ze zeechnen, Text ze beschrëften an derbäizefügen... Et si verschidde Méiglechkeeten fir Hëllefslinnen, Linnbreet an Längteenheeten verfügbar; Schrëftfaarf, Gréisst a Schrëftstil vun de Miessdaten si och verfügbar; Testdaten kënnen zesummegefaasst an an Excel exportéiert ginn.
Funktioun vun der organisatorescher Analyse:D'Softwarebibliothéik enthält eng breet Palette vun Testnormen, dorënner GB/ASTM/ISO/DIN/QC/JB/DL/TB/SS an aner organisatoresch Analysenormen. D'Normen an der Softwarebibliothéik kënne gratis aktualiséiert ginn, an d'Software bitt automatesch a komparativ Analyseméiglechkeeten. Si huet dräi metallographesch Gradéierungsfunktiounen: primär, sekundär an assistéiert. Si ass einfach, einfach a séier ze benotzen a liwwert präzis a verlässlech Miessungen.
Fortgeschratt Personnalisatiounsfeatures:Personnaliséiert Mikroskop motoriséiert Bühnsteierung, Bildkonfokaliséierung, 3D-Liichtmapping, Bilddatebank, etc.
Verschidde Rapportvirlagen:Generéiert automatesch räich illustréiert metallographesch Analyserapporter, mat Optiounen fir Eenzelmodul- oder Méimodul-Rapportstiler. Rapportvirlagen kënne geännert ginn, fir Firmenlogoen, Firmennimm, Testprozeduren an aner Informatiounen anzebannen. Personnaliséiert Rapportvirlagen sinn och verfügbar, fir Är spezifesch Bedierfnesser gerecht ze ginn.
KI-ugedriwwen Tissueanalysefunktioun:E personaliséierbare KI-Gewebeanalysemodul benotzt kënschtlech Intelligenz fir de ganze Mikrostrukturanalyse- an Detektiounsprozess ofzeschléissen, andeems d'Mikrostruktur vu Materialien automatesch identifizéiert an analyséiert gëtt. De Betribsprozess ass einfach, wat d'Aarbechtsintensitéit vum Personal reduzéiert an d'Effizienz vun de Materialtester verbessert.
National Standard Zeechnungsbibliothéik:Enthält Honnerte vun nationalen Normzeechnunge fir Clienten ze studéieren a sech dobäi ze orientéieren.
Metallographie Léiermodul:Enthält e Metallographie-Léiermodul, deen d'Clienten léiere kënnen a sech drop orientéiere kënnen.
EDF Déift vum Feld Expansiounsfunktioun:Fir Proben, déi ongläichméisseg sinn a net am Fokus ausgeriicht kënne ginn, bitt d'Software eng dynamesch EDF-Déifteschärftfunktioun. Duerch d'Upassung vum Z-Achs-Mikrojustéierungsfokussierungshandrad vum Mikroskop ginn kloer Detailer an der Prouf kontinuéierlech an d'dynamescht EDF-Displayfenster fir dynamesch Aktualiséierungen bäigefüügt. D'Software späichert automatesch kloer Biller a verschiddenen Déifteschärftdéiften a setzt se zu engem kloere Bild zesummen.
Bild-Nähfunktioun:Fir Clienten, déi e méi grousst Siichtfeld ënnersiche mussen, bitt d'Software eng Bildverstäipungsfunktioun. D'Benotzer kënnen d'XY-Plattform vum Mikroskop beweegen, fir e Scan vun de Biller a voller Gréisst an eng héich performant Bildsynthese z'erreechen, fir eng nahtlos Verbindung vu verschiddene Siichtfelder ze garantéieren. Dëst erfëllt de Besoin vum Client, Biller vu gréissere Proufsiichtfelder opzehuelen, an léist d'Péng, keng Fotoen ze maachen, well de Mikroskop net genuch Siichtfeld huet.
Et ënnerstëtzt personaliséiert Scanweeër, adaptéiert sech un onregelméisseg Proben a verbessert d'Erfolgsquote beim Spleisséiere vu komplexe Flächen.
D'Z-Achs gëtt elektresch ugedriwwen, wat eng automatesch Bildfokusséierung erméiglecht.
| GB/T 10561-2023 Bestëmmung vum net-metallesche Inklusiounsgehalt a Stol | GB/T 34474.1-2017 Evaluatioun vun enger Bandstruktur aus Stol |
| GB/T 7216-2023 Metallographesch Untersuchung vu groem Goss | DL/T 773-2016 Sphäroidiséierungsstandard fir 12Cr1MoV Stol, deen an thermesche Kraaftwierker benotzt gëtt |
| GB / T 26656 - 2023 Metallographesch Untersuchung vu vermikulärem Grafitgoss | DL / T 1422 - 2015 18Cr-8Ni Serie Austenitescht Edelstahl Kesselröhr Mikrostruktur Alterungsbewäertungsstandard |
| GB/T 13299-2022 Evaluatiounsmethod fir d'Mikrostruktur vu Stol | GB /T 3489-2015 Hartlegierungen - Metallographesch Bestëmmung vun der Porositéit an dem net-verbundenen Kuelestoff |
| GB/T 9441-2021 Metallographesch Untersuchung vun duktilem Eisen | JB/T 1255-2014 Technesch Konditioune fir d'Hëtzebehandlung vu Kuelestoff-Chrom-Lagerstäiler fir Rolllager |
| GB/T 38720-2020 Metallographesch Untersuchung vu gedämpfte mëttleren Kuelestol a mëttleren Kuelestofflegierungsstrukturstol | GB / T 1299 - 2014 Werkzeug- a Matrizestol |
| GB/T 224-2019 Method fir d'Bestimmung vun der entkohlter Schichtdéift a Stol | GB / T 25744 - 2010 Metallographesch Inspektioun vu karburéierten, gehärteten an gehärtete Stoldeeler |
| TB/T 2942.2-2018 ZG230-450 Metallographesch Inspektioun vu Gossstahl | GB/T13305-2008 Metallographesch Bestëmmung vum α-Phasen-Flächengehalt an Edelstahl |
| JB/T 5108-2018 Metallographesch Analyse vu Gossmess | JB/T 9204-2008 Metallographesch Inspektioun vun induzéiert gehärtete Stoldeeler |
| GB /T 6394-2017 Method fir d'Bestimmung vun der duerchschnëttlecher Kärgréisst vu Metaller | GB/T 13320-2007 Stolschmiedungen, metallographesch Strukturbewertungsdiagrammer a Bewäertungsmethoden |
| JB/T7946.1-2017 Metallographie vu Gossaluminiumlegierungen | DL/T 999-2006 Bewäertungsstandard fir sphäroidiséierte Stol fir Kraaftwierker |
| JB/T7946.2-2017 Iwwerhëtzung vu gegossenen Aluminium-Siliciumlegierungen | DL/T 439-2006 Technesch Richtlinne fir Héichtemperaturbefestigungselementer an thermesche Kraaftwierker |
| JB/T7946.3-2017 Goss Aluminiumlegierung Lach | DL/T 786-2001 Standard fir d'Testung an d'Bewäertung vun der Graphitiséierung vu Kuelestol |
| JB/T 7946.4-2017 Metallographie vu Gossaluminiumlegierungen | B/T 1979-2001 Diagramm fir d'Bewäertung vu Mikrostrukturdefekter mat gerénger Vergréisserung fir Strukturstol |
| GB / T 34891 - 2017 Rolllager_Technesch Konditioune fir d'Hëtzebehandlung vu Kuelestoff-Chrom-Lagerstäiler | DL/T 674-1999 Standard fir d'Perlit-Sphäroidiséierungsklassifikatioun vu Stol Nr. 20 fir thermesch Kraaftwierker |
Den FKX2025 Porositéitsbildanalysesystem benotzt mikroskopesch Bildgebung fir d'Porositéit vun Autosdeeler ze detektéieren. Et ass e Porositéitsmiessungssystem fir Gossaluminium, dat an der Automobilindustrie benotzt gëtt, a konform mat de VW50097- a PV6097-Standarden vu Volkswagen. D'Miessresultater si präzis a zouverlässeg. Et gëtt haaptsächlech fir d'Analyse vun der Gossporositéit vun Aluminiumlegierungen a Gossgussen benotzt, an ass och gëeegent fir d'Porositéitsanalyse an d'metallographesch Analyse vun anere Materialien.
D'Software fir d'Bildanalyse vu Porositéit kann mat enger elektrescher Bühn benotzt ginn, fir automatescht Scannen, automatesch Fokusséierung, automatesch Bildverstäipung, automatesch Porositéitsmessung, Datenstatistik an eng Rapportausgab z'erreechen.
Funktioun fir d'Bildstéckung:Setzt d'Nähparameter an den Bildtyp, klickt op "Auto Stitch" an d'Bildnähen gëtt automatesch ofgeschloss.
Astellungen fir d'Sichparameter:Indem d'Minimalfläch, d'Maximalfläch an de Schwellwäert festgeluecht ginn, kann eng Vollkaartesich duerchgefouert ginn, fir all Poren bannent de festgeluechte Parameteren vun der ganzer Kaart ze fannen.
Bildauswiel:Bitt Selektiounsinstrumenter wéi Rechteck, Polygon, Krees, Quadrat an Dräieck. Nodeems d'Selektioun ofgeschloss ass, féiert d'Software automatesch eng Porositéitsanalyse op der ausgewielter Fläch duerch.
Porenanalyse:Et kann Daten wéi den Perimeter, d'Fläch, d'Haaptachs, d'Nieweachs, den gläichwäertege Kreesduerchmiesser, d'Aspektverhältnis an d'Ronnheet vun all Pore analyséieren.
Geometresch Miessung:Eng Vielfalt vu Miessinstrumenter kënne fir Dimensioune benotzt ginn
Datenstatistik a Rapportgeneratioun:Et kann detailléiert Parameterdaten fir all Pore statistesch analyséieren an zwéi Berichtmodi generéieren, VW50093 oder VW50097.
